发明名称 以锗为基础之量子井装置
摘要 量子井电晶体具有锗量子井通道区。含矽的蚀刻停止层提供靠近此通道的闸极介电质之简易配置。III-V族位障层施加应变于此通道。在此通道区之上及之下的渐变锗化矽层改善性能。多种闸极介电质材料允许高k值闸极介电质的使用。
申请公布号 TWI467758 申请公布日期 2015.01.01
申请号 TW099143226 申请日期 2010.12.10
申请人 英特尔股份有限公司 美国 发明人 皮拉瑞斯提 拉维;金 宾毅;朱功 班杰明;梅兹 马修;卡瓦莱罗斯 杰克;拉多撒福杰维克 马可;寇利尔 罗沙;瑞奇曼第 威利;穆可吉 尼洛依;狄威 吉伯特;乔 罗伯特
分类号 H01L29/15;H01L29/78;H01L29/40;H01L27/092 主分类号 H01L29/15
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项 一种量子井装置,包含:下层位障区,包含大的带隙材料;量子井通道区,在该下层位障区上,该量子井通道区包含锗;上层位障区,在该量子井通道区上,该上层位障区包含大的带隙材料;间隙壁区,在该量子井通道区上;蚀刻停止区,在该间隙壁区上,该蚀刻停止区包含矽,且实质上没有锗;闸极介电质,在该蚀刻停止区上;闸极电极,在该闸极介电质上;以及至该闸极电极的一侧,且在该下层位障区、该间隙壁区、及该蚀刻停止区上之第一接触堆叠,该第一接触堆叠包含:高间隙壁区,在该蚀刻停止区上,该高间隙壁区包含锗化矽;掺杂区,在该高间隙壁区上,该掺杂区包含掺杂有硼的锗化矽;其中,该上层位障区为该第一接触堆叠的部分;以及接触区,在该上层位障区上。
地址 美国