发明名称 奈米线格栅结构及奈米线的制造方法
摘要 本发明揭示一种奈米线制造方法,其系包括:形成复数个格栅图案于一格栅基底层之上;形成一牺牲层于形成有该格栅图案之上的该格栅基底层之上;形成一奈米线基底层于该牺牲层之上,藉此以产生一奈米线格栅结构;对该奈米线基底层进行湿蚀刻,以形成一奈米线;以及对该牺牲层进行蚀刻,以将该格栅图案与该奈米线分离。据此,该方法可具有下述优点:因一湿蚀刻时间系被调整,故可调整产生之该奈米线之一宽度及一高度;该奈米线可在室温下以一低成本来制造;该奈米线可被大量制造;以及,尽管是在大量制造的情形下,产生之该奈米线仍具有高一致性。
申请公布号 TWI466820 申请公布日期 2015.01.01
申请号 TW101146738 申请日期 2012.12.11
申请人 LG伊诺特股份有限公司 南韩 发明人 李领宰;刘庆锺;金镇秀;李俊
分类号 B82Y40/00;B82Y10/00 主分类号 B82Y40/00
代理机构 代理人 陈瑞田 高雄市凤山区建国路3段256之1号
主权项 一种奈米线格栅结构,包括:一格栅基底层,其上形成有复数个格栅图案;一牺牲层,形成于具有该些格栅图案之该格栅基底层之上;以及一奈米线基底层,形成于该牺牲层之上,以使一孔隙得以形成于各格栅图案之间。
地址 南韩