发明名称 |
量测系统与量测方法 |
摘要 |
一种量测系统,用以量测一待测物之一孔洞,包括:一光源产生单元,用以产生一光源,并且沿着该孔洞之高度轴方向将该光源分别对焦至不同高度之复数平面;一撷取单元,撷取从该等平面所产生散射出的复数影像;以及一处理单元,根据该等影像取得该等平面的孔洞边界,用以在每个该等平面的孔洞边界上取样不同方位角的影像强度,以便产生复数取样值,并且根据该等取样值和所对应的高度和方位角,建立该孔洞之侧壁影像。 |
申请公布号 |
TWI467125 |
申请公布日期 |
2015.01.01 |
申请号 |
TW101134870 |
申请日期 |
2012.09.24 |
申请人 |
财团法人工业技术研究院 新竹县竹东镇中兴路4段195号 |
发明人 |
徐得铭;顾逸霞 |
分类号 |
G01B11/00 |
主分类号 |
G01B11/00 |
代理机构 |
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代理人 |
洪澄文 台北市南港区三重路19之6号2楼;颜锦顺 台北市南港区三重路19之6号2楼 |
主权项 |
一种量测方法,用以量测一基板之一孔洞,包括:沿着该孔洞之高度轴方向将一光源分别对焦至不同高度之复数平面;撷取从该等平面所产生散射出的复数影像;根据该等影像取得该等平面的孔洞边界;在每个该等平面的孔洞边界上取样不同方位角的影像强度,以便产生复数取样值;以及根据该等取样值和所对应的高度和方位角,建立该孔洞之侧壁影像。 |
地址 |
新竹县竹东镇中兴路4段195号 |