发明名称 干涉成像装置及其系统
摘要 一种干涉成像装置,其包括射源装置与成像装置。射源装置为极紫外线射源并产生输入射源。成像装置将所接收的输入射源分为参考射束与样本射束辐射单元,并具有参考路径辐射单元、样本路径辐射单元与辐射感测器,其中此成像装置之反射或聚焦元件皆为使用特定材料组合之多层膜片。样本路径辐射单元可供设置待测物,且待测物可反射样本射束。参考射束与样本射束分别行经于参考路径辐射单元与样本路径辐射单元,并聚焦于辐射感测器,以使辐射感测器藉此获得带有待测物结构资讯的干涉资讯。
申请公布号 TWI467154 申请公布日期 2015.01.01
申请号 TW100131256 申请日期 2011.08.31
申请人 国立台湾大学 台北市大安区罗斯福路4段1号 发明人 王誉达;张俊霖;黎延垠;黄升龙;孙继文
分类号 G01N21/17 主分类号 G01N21/17
代理机构 代理人 庄志强 台北市大安区敦化南路2段71号18楼
主权项 一种干涉成像装置,包括:一射源装置,系为一极紫外线射源,用以产生一输入射源;以及一成像装置,接收该输入射源,并将该输入射源分为一参考射束与一样本射束,其中该成像装置的多个反射或聚焦元件皆为使用特定材料组合之多层膜片,且该成像装置包括:一参考路径辐射单元,其中该参考射束通过该参考路径辐射单元,而聚焦于一辐射感测器;一样本路径辐射单元,用以供一待测物设置于其中,其中该样本射束通过该样本路径辐射单元而聚焦于该辐射感测器;以及该辐射感测器,撷取一干涉资讯,其中该干涉资讯系由聚焦于该辐射感测器之该参考射束与该样本射束干涉而形成,该干涉资讯带有该待测物之一结构资讯,而聚焦于该辐射感测器之该参考射束与该样本射束之间的一波程差小于该输入射源的一同调长度;其中,该样本路径辐射单元更包括:一横向位移单元,系以供调整该样本路径辐射单元的一路径长度,并用以接收该样本射束,以产生一横向位移样本射束;一第一样本射束聚焦单元,系由具有一第二固定焦点之一第二反射壳面所组成,接收该横向位移样本射束,以产生一样本聚焦射束聚焦于该待测物之表面或内部之一位置;一目标单元,系以供设置该待测物,以反射该样本聚焦射束,并产生一样本资讯射束;以及一第二样本射束聚焦单元,系由具有一第三固定焦点之一第三反射壳面所组成,接收该样本资讯射束,以产生一样本资讯聚焦射束聚焦于该辐射感测单元。
地址 台北市大安区罗斯福路4段1号