发明名称 |
半导体发光元件之制造方法及半导体发光元件、灯、电子设备、机械装置 |
摘要 |
提供一种不易产生起因于第二n型半导体层表面所导致的发光层及p型半导体层之不良情形,且可获得高输出之半导体发光元件之制造方法。采用一种半导体发光元件1之制造方法,其特征为,具备:第一步骤,系在基板(11)上层积第一n型半导体层(12c);及第二步骤,系在上述第一n型半导体层(12c)上,依序层积上述第一n型半导体层(12c)的再成长层(12d)、第二n型半导体层(12b)、发光层(13)以及p型半导体层(14);在层积上述第二n型半导体层(12b)的步骤中,依序进行藉由供给比上述再成长层(12d)形成时还少量之上述Si作为掺杂物而形成第二n型半导体层第一层之步骤(1),以及藉由供给比上述步骤(1)还多的上述Si而形成第二n型半导体层第二层之步骤(2)。 |
申请公布号 |
TWI467801 |
申请公布日期 |
2015.01.01 |
申请号 |
TW100106795 |
申请日期 |
2011.03.02 |
申请人 |
丰田合成股份有限公司 日本 |
发明人 |
酒井浩光 |
分类号 |
H01L33/02 |
主分类号 |
H01L33/02 |
代理机构 |
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代理人 |
丁国隆 台北市大安区敦化南路2段77号8楼;黄政诚 台北市大安区敦化南路2段77号8楼 |
主权项 |
一种半导体发光元件之制造方法,其特征为,具备:第一步骤,系在第一有机金属化学气相成长装置中,于基板上层积第一n型半导体层;及第二步骤,系在第二有机金属化学气相成长装置中,于上述第一n型半导体层上,依序层积上述第一n型半导体层的再成长层、第二n型半导体层、发光层、以及由p包覆层和p接触层所构成的p型半导体层;在层积上述第二n型半导体层的步骤中,依序进行藉由供给比上述再成长层形成时还少量之Si作为掺杂物而形成第二n型半导体层第一层之步骤(1)、以及藉由供给比上述步骤(1)还多的上述Si而形成第二n型半导体层第二层之步骤(2)。 |
地址 |
日本 |