发明名称 半导体发光元件之制造方法及半导体发光元件、灯、电子设备、机械装置
摘要 提供一种不易产生起因于第二n型半导体层表面所导致的发光层及p型半导体层之不良情形,且可获得高输出之半导体发光元件之制造方法。采用一种半导体发光元件1之制造方法,其特征为,具备:第一步骤,系在基板(11)上层积第一n型半导体层(12c);及第二步骤,系在上述第一n型半导体层(12c)上,依序层积上述第一n型半导体层(12c)的再成长层(12d)、第二n型半导体层(12b)、发光层(13)以及p型半导体层(14);在层积上述第二n型半导体层(12b)的步骤中,依序进行藉由供给比上述再成长层(12d)形成时还少量之上述Si作为掺杂物而形成第二n型半导体层第一层之步骤(1),以及藉由供给比上述步骤(1)还多的上述Si而形成第二n型半导体层第二层之步骤(2)。
申请公布号 TWI467801 申请公布日期 2015.01.01
申请号 TW100106795 申请日期 2011.03.02
申请人 丰田合成股份有限公司 日本 发明人 酒井浩光
分类号 H01L33/02 主分类号 H01L33/02
代理机构 代理人 丁国隆 台北市大安区敦化南路2段77号8楼;黄政诚 台北市大安区敦化南路2段77号8楼
主权项 一种半导体发光元件之制造方法,其特征为,具备:第一步骤,系在第一有机金属化学气相成长装置中,于基板上层积第一n型半导体层;及第二步骤,系在第二有机金属化学气相成长装置中,于上述第一n型半导体层上,依序层积上述第一n型半导体层的再成长层、第二n型半导体层、发光层、以及由p包覆层和p接触层所构成的p型半导体层;在层积上述第二n型半导体层的步骤中,依序进行藉由供给比上述再成长层形成时还少量之Si作为掺杂物而形成第二n型半导体层第一层之步骤(1)、以及藉由供给比上述步骤(1)还多的上述Si而形成第二n型半导体层第二层之步骤(2)。
地址 日本