发明名称 |
半导体装置及其制造方法;SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME |
摘要 |
本发明为提供一种可将障壁金属薄膜化,且确保与金属电极的密着性,以及在薄膜进行膜厚控制、管理的半导体装置。半导体装置,其具备:半导体基板上的活性区域;和在活性区域内具有下部与上部的沟;和覆盖沟之内壁面的闸极绝缘膜;和介设闸极绝缘膜而覆盖沟下部的第一障壁金属;和覆盖第一障壁金属的第二障壁金属;和覆盖第二障壁金属,埋设沟下部的金属电极;和埋设沟之上部的间隙绝缘膜。第二障壁金属的膜厚比第一障壁金属的膜厚还薄。 |
申请公布号 |
TW201501305 |
申请公布日期 |
2015.01.01 |
申请号 |
TW103104103 |
申请日期 |
2014.02.07 |
申请人 |
PS4卢克斯科公司 |
发明人 |
信藤秀和 |
分类号 |
H01L29/78(2006.01);H01L21/28(2006.01) |
主分类号 |
H01L29/78(2006.01) |
代理机构 |
|
代理人 |
林志刚 |
主权项 |
|
地址 |
卢森堡 |