发明名称 半导体装置及其制造方法;SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME
摘要 本发明为提供一种可将障壁金属薄膜化,且确保与金属电极的密着性,以及在薄膜进行膜厚控制、管理的半导体装置。半导体装置,其具备:半导体基板上的活性区域;和在活性区域内具有下部与上部的沟;和覆盖沟之内壁面的闸极绝缘膜;和介设闸极绝缘膜而覆盖沟下部的第一障壁金属;和覆盖第一障壁金属的第二障壁金属;和覆盖第二障壁金属,埋设沟下部的金属电极;和埋设沟之上部的间隙绝缘膜。第二障壁金属的膜厚比第一障壁金属的膜厚还薄。
申请公布号 TW201501305 申请公布日期 2015.01.01
申请号 TW103104103 申请日期 2014.02.07
申请人 PS4卢克斯科公司 发明人 信藤秀和
分类号 H01L29/78(2006.01);H01L21/28(2006.01) 主分类号 H01L29/78(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 卢森堡