发明名称 半导体装置之制造方法;METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要 在被高度为相异之第1线图案(52)和第2线图案(53)所包围之接触孔(54)处,残留有凹部(62)地而成膜第1绝缘膜(61),并填埋凹部(62)地而形成第1遮罩膜(63),再进行回蚀而将凹部(62)下以外之第1绝缘膜(61)除去,而形成第2接触孔(64)。之后,藉由将导电材料埋入至第2接触孔(64)中,并使高度为低之第1线图案(52)上面露出,而形成接触插塞。
申请公布号 TW201501240 申请公布日期 2015.01.01
申请号 TW103104099 申请日期 2014.02.07
申请人 PS4卢克斯科公司 发明人 横道政宏
分类号 H01L21/768(2006.01) 主分类号 H01L21/768(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 卢森堡