限位框、芯片测试装置及芯片测试方法

摘要

本发明适用于芯片测试技术领域，公开了一种限位框、芯片测试装置及芯片测试方法。限位框包括框体，所述框体具有用于定位芯片的内框，所述框体的外框与测试座的容纳部相匹配，所述内框与芯片外形尺寸相匹配。芯片测试装置包括测试座和上述的限位框。测试方法，包括以下步骤，制备外形尺寸与测试座容纳部匹配且内框尺寸与各芯片匹配的多个限位框，根据芯片的外形选用相应的限位框，于所述芯片测试装置的测试座上安装所述的限位框，再将芯片安放于限位框内并使芯片的接口与所述测试座上的电接触端子组匹配。本发明提供的限位框、芯片测试装置及芯片测试方法，其提高了芯片测试装置的通用性，降低了芯片测试的成本。

主权项

一种限位框，其特征在于，包括框体，所述框体具有用于定位芯片的内框，所述框体的外框与测试座的容纳部相匹配，所述内框与芯片外形尺寸相匹配。