发明名称 光学式检测装置及电子设备
摘要 本发明涉及光学式检测装置及电子设备。一种光学式检测装置,具备:面传感器即发光元件(2)、将从发光元件(2)射出的光束照射到测定对象物(20)的发光透镜部(4a)、对来自测定对象物(20)的反射光进行聚光的光接收透镜部(5a)、对由光接收透镜部(5a)聚光的来自测定对象物(20)的反射光进行检测的光接收元件(3)、以及对来自光接收元件(3)的光接收信号进行处理的信号处理部(7)。上述信号处理部(7)基于来自光接收元件(3)的光接收信号,根据光接收元件(3)上的光点位置或光点形状的其中至少一项检测出xy坐标平面上的测定对象物(20)的x坐标或y坐标的其中至少一项。
申请公布号 CN102096464B 申请公布日期 2014.12.31
申请号 CN201010267419.5 申请日期 2010.08.27
申请人 夏普株式会社 发明人 和田秀夫;山口阳史;久保胜
分类号 G06F3/01(2006.01)I 主分类号 G06F3/01(2006.01)I
代理机构 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人 葛青
主权项 一种光学式检测装置,其特征在于,具备:发光元件、将从所述发光元件射出的光束照射到测定对象物的照射光学系统、对来自所述测定对象物的反射光进行聚光的反射光光学系统、对由所述反射光光学系统进行聚光的来自所述测定对象物的反射光进行检测的光接收元件、以及对来自所述光接收元件的光接收信号进行处理的信号处理部,所述光接收元件是对来自所述测定对象物的反射光的强度分布进行检测的面传感器,所述信号处理部,在将从所述发光元件射出的光束的光轴设为z轴、将与所述z轴正交且沿连结所述发光元件和所述光接收元件的直线方向的直线设为x轴、将从所述z轴和所述x轴的交点通过且与所述z轴及所述x轴正交的直线设为y轴、将包含所述x轴和所述y轴的平面设为xy坐标平面时,基于来自所述光接收元件的所述光接收信号,根据表示所述光接收元件上的光点形状的光强度分布的微分波形的正和负的峰值强度或者所述光接收元件上的光点的重心位置其中至少一项、检测所述xy坐标平面上的表示所述测定对象物的位置的x坐标或y坐标的其中至少一项,基于所述xy坐标平面上的表示所述测定对象物的位置的x坐标或y坐标的其中至少一项的规定时间前后的差,检测所述测定对象物的移动方向或移动速度的其中至少一项。
地址 日本大阪府