发明名称 |
III族氮化物半导体叠层衬底和III族氮化物半导体场效应晶体管 |
摘要 |
III族氮化物半导体叠层衬底(100)具备:沟道层(5),该沟道层(5)为III族氮化物半导体:和势垒层(6),该势垒层(6)形成在沟道层(5)上,与沟道层(5)形成异质界面,并且为III族氮化物半导体,势垒层(6、206)中,距表面的深度为10nm以下的区域的Cu浓度为1.0×10<sup>10</sup>(原子数/cm<sup>2</sup>)以下。 |
申请公布号 |
CN104254908A |
申请公布日期 |
2014.12.31 |
申请号 |
CN201380021901.2 |
申请日期 |
2013.04.19 |
申请人 |
夏普株式会社 |
发明人 |
松林雅和;寺口信明;伊藤伸之 |
分类号 |
H01L21/338(2006.01)I;C23C16/34(2006.01)I;H01L21/205(2006.01)I;H01L29/778(2006.01)I;H01L29/812(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/338(2006.01)I |
代理机构 |
北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 |
代理人 |
龙淳 |
主权项 |
一种III族氮化物半导体叠层衬底(100、200),其特征在于,具备:沟道层(5、205),该沟道层(5、205)为III族氮化物半导体;和势垒层(6、206),该势垒层(6、206)形成在所述沟道层(5、205)上,与所述沟道层(5、205)形成异质界面,并且为III族氮化物半导体,所述势垒层(6、206)中,距表面的深度为10nm以下的区域的Cu浓度为1.0×10<sup>10</sup>原子数/cm<sup>2</sup>以下。 |
地址 |
日本大阪府 |