发明名称 抗蚀剂底层组合物以及利用其制造半导体集成电路器件的方法
摘要 提供了一种抗蚀剂底层组合物,包括有机硅烷系缩聚化合物和溶剂,其中该有机硅烷系缩聚化合物包含40mol%至80mol%由以下化学式1表示的结构单元。因此,本发明涉及一种能够提供优异的图案转印特性的抗蚀剂底层组合物、利用具有优异的储存稳定性和耐蚀刻性的抗蚀剂底层、以及利用其制造半导体集成电路器件的方法。
申请公布号 CN102713758B 申请公布日期 2014.12.31
申请号 CN201080060221.8 申请日期 2010.12.10
申请人 第一毛织株式会社 发明人 金美英;金相均;赵显模;高尚兰;尹熙灿;丁龙辰;金钟涉
分类号 G03F7/11(2006.01)I;G03F7/075(2006.01)I;H01L21/027(2006.01)I 主分类号 G03F7/11(2006.01)I
代理机构 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人 李丙林;张英
主权项 一种抗蚀剂底层组合物,包含有机硅烷缩聚产物和溶剂,所述有机硅烷缩聚产物包括40mol%至76mol%由以下化学式1表示的结构单元、1至8mol%的由以下化学式2表示的结构单元、18至50mol%的由以下化学式3表示的结构单元,[化学式1]<img file="FDA0000543812490000011.GIF" wi="488" he="440" />[化学式2]<img file="FDA0000543812490000012.GIF" wi="464" he="388" />[化学式3]<img file="FDA0000543812490000013.GIF" wi="492" he="400" />其中,在化学式1至3中,ORG选自由包括取代或未取代的芳环的C6至C30官能团、C1至C12烷基、和‑Y‑{Si(OR)<sub>3</sub>}<sub>a</sub>组成的组,其中,R是C1至C6烷基,Y是主链中的直链或支链的取代或未取代的C1至C20亚烷基;或包括选自由亚烯基、亚炔基、亚芳基、杂环基、脲基、异氰尿酸酯基、以及它们的组合组成的组中的取代基的C1至C20亚烷基,并且a是1或2,并且Z选自由氢和C1至C6烷基组成的组。
地址 韩国庆尚北道