辅助人工挑选发光二极管晶粒的检测系统

摘要

本实用新型有关于一种辅助人工挑选发光二极管晶粒的检测系统，所述辅助人工挑选发光二极管晶粒的检测系统，包括：一光学检测装置、一扫描装置、一平板计算机装置及一晶粒吸取装置，该扫描装置扫描所述光学检测装置的检测结果且将扫描资料传送至平板计算机装置，再由所述平板计算机装置显示辨识讯号以供使用者快速判别，并同时透过本挑选方法可实现降低人力成本且同时可提高质量良率与生产速度的功效者。

主权项

一种辅助人工挑选发光二极管晶粒的检测系统，其特征在于：包含一光学检测装置，具有至少一承载治具，所述承载治具上设置复数定位有一晶圆的晶圆定位模块，该晶圆具有复数发光二极管晶粒，且该光学检测装置经由检测所述晶圆并产生至少一晶圆报表，该晶圆报表包括有一条形码与一检测资料；一扫描装置，根据所述条形码读取所述晶圆报表并产生一扫描资料；一平板计算机装置，具有一显示荧幕并供检测后的晶圆设置，而该平板计算机装置电性连接所述扫瞄装置且接收所述扫描资料，并该显示荧幕根据所述扫描资料产生至少一显示讯号并对未通过检测的发光二极管晶粒位置产生有一辨识讯号；及一晶粒吸取装置，吸取产生有辨识讯号的发光二极管晶粒。