| 发明名称 | 通过测量光散射和荧光来表征样本的方法和设备 | ||
| 摘要 | 一种用于表征至少一个样本的方法以及实施这一方法的设备，所述方法包括：a)通过各个照射波长(λ<sub>ε</sub><sup>1</sup>-λ<sub>E</sub><sup>3</sup>)下的N>1次光线(LE<sup>1</sup>-LE<sup>3</sup>)照射待分析的所述样本或每个样本；b)为每个所述光线获取由所述样本或每个样本发出的至少一个荧光光强度和至少一个弹性散射光强度；c)对于所述样本或每个样本，基于所述荧光强度和所述弹性散射光强度来确定矢量指标；d)基于相应的矢量指标来确定表征每个样本或者所述样本经作用的方法的至少一个参数。 | ||
| 申请公布号 | CN104246478A | 申请公布日期 | 2014.12.24 |
| 申请号 | CN201380015568.4 | 申请日期 | 2013.03.20 |
| 申请人 | 光谱创新公司 | 发明人 | 阿卜杜勒哈克·阿卡利德;伊内丝·伯鲁兹-亚拉贡 |
| 分类号 | G01N21/47(2006.01)I;G01N21/64(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/47(2006.01)I |
| 代理机构 | 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 | 代理人 | 李静;张浴月 |
| 主权项 | 一种用于表征至少一个样本的方法，包括：a)由各个照射波长(λ<sub>E</sub><sup>1</sup>‑λ<sub>E</sub><sup>3</sup>)下的N≥1次光辐射(LE<sup>1</sup>‑LE<sup>3</sup>)照射待分析的所述样本或每个样本；b)为每次所述光辐射获取由所述样本或每个样本发出的至少一个荧光光强度和至少一个弹性散射光强度；c)对于所述样本或每个样本，根据所述荧光强度和所述弹性散射光强度来确定矢量指标；d)由相应的矢量指标来确定表征每个样本或者所述样本经作用的方法的至少一个参数。 | ||
| 地址 | 法国罗曼维尔 | ||