发明名称 |
一种用于测量ZigBee射频性能的自动测试系统 |
摘要 |
一种用于测量ZigBee射频性能的自动测试系统,包括待测ZigBee DUT、ZigBee测试仪、测试系统平台,待测ZigBee DUT与ZigBee测试仪通过射频线通信连接,ZigBee测试仪与测试系统平台通过GPIB总线或网线通信连接,测试系统平台由电源、背板、控制器、存储单元、键盘、显示器及机箱结构组件构成,电源给背板供电,存储单元通过CF插槽插在控制器上,控制器通过PXI接口插在背板上,键盘通过USB接口连接在控制器上,显示器通过VGA接口连接在控制器上,机箱结构组件将整个测试系统平台固定。本实用新型的有益效果:利用GPIB总线和网络对ZigBee射频性能进行自动测试,使用方便,能提高ZigBee设备研发与生产的进度,系统形成后无需人为参于,节约人力成本,为ZigBee设备性能指标的验证提供很好的解决方案。 |
申请公布号 |
CN204046617U |
申请公布日期 |
2014.12.24 |
申请号 |
CN201420135150.9 |
申请日期 |
2014.03.24 |
申请人 |
武汉威士讯信息技术有限公司 |
发明人 |
张家平;姚僖 |
分类号 |
H04B17/00(2006.01)I |
主分类号 |
H04B17/00(2006.01)I |
代理机构 |
湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 |
代理人 |
苏敏 |
主权项 |
一种用于测量ZigBee射频性能的自动测试系统,其特征在于:包括待测ZigBee DUT、ZigBee测试仪、测试系统平台,所述待测ZigBee DUT与ZigBee测试仪通过射频线通信连接,ZigBee测试仪与测试系统平台通信连接,所述测试系统平台由电源、背板、控制器、存储单元、键盘、显示器及机箱结构组件构成,电源给背板供电,存储单元通过CF插槽插在控制器上,控制器通过PXI接口插在背板上,键盘通过USB接口连接在控制器上,显示器通过VGA接口连接在控制器上,测试系统平台的电源、背板、控制器、存储单元、键盘、显示器固定于机箱结构组件上。 |
地址 |
430074 湖北省武汉市东湖新技术开发区关东园路2-2号光谷国际商会大厦B座1210 |