非线性光学晶体在太赫兹波段折射率的测量装置及方法

摘要

本发明涉及一种非线性光学晶体在太赫兹波段折射率的测量装置及方法，属于太赫兹波技术应用领域。本发明通过双KTP晶体组成的光学参量振荡器产生两束频率差在太赫兹频率段的差频光作为待测非线性光学晶体的入射光，通过平移晶体改变差频光穿过晶体的厚度，测量太赫兹波输出能量，太赫兹波能量最大的位置对应于晶体厚度恰好等于差频过程中的相干长度，通过测量相干长度计算出晶体在太赫兹波段的折射率。改变两束差频光的波长可以得到波长调谐的太赫兹波，从而可以得到非线性光学晶体在整个太赫兹波段的折射率；同时还可通过温度调节装置改变非线性光学晶体的温度得到非线性光学晶体在20-200℃范围内的太赫兹波折射率，并且本发明结构简单，成本较低。

主权项

一种非线性光学晶体在太赫兹波段折射率的测量装置，其特征在于，该测量装置包括设置在同一光路上的泵浦光源、KTP光学参量振荡器和太赫兹波探测系统，所述泵浦光源用于产生激光入射至KTP光学参量振荡器；所述KTP光学参量振荡器用于根据接收到激光产生两束频率差在太赫兹频率段的差频光作为待测非线性光学晶体的入射光；所述太赫兹波探测系统用于测量穿过待测非线性光学晶体太赫兹波的能量。