发明名称 |
CT成像方法和系统 |
摘要 |
公开了一种CT成像方法和系统。该方法包括步骤:利用双能CT系统对物体进行CT扫描,在第一扫描模式下得到完备的第一投影数据集合,在第二扫描模式下得到非完备的第二投影数据集合;基于第一投影数据集合重建物体的第一衰减系数图像,并且从第一衰减系数图像中提取物体的先验结构信息,所述先验结构信息指示边缘的强弱;利用提取的先验结构信息作为约束条件,从非完备的第二投影数据集合重建所述物体的第二衰减系数图像。所述方法利用被成像物体的先验结构信息作为重建过程的约束条件,可以大幅度降低重建所需要的数据量,对于病态的有限角和内重建问题也具有良好的效果。 |
申请公布号 |
CN104240270A |
申请公布日期 |
2014.12.24 |
申请号 |
CN201310234787.3 |
申请日期 |
2013.06.14 |
申请人 |
同方威视技术股份有限公司 |
发明人 |
沈乐;邢宇翔;张丽;陈志强 |
分类号 |
G06T11/00(2006.01)I;A61B6/03(2006.01)I |
主分类号 |
G06T11/00(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
王波波 |
主权项 |
一种CT成像方法,包括步骤:利用双能CT系统对物体进行CT扫描,在第一扫描模式下得到完备的第一投影数据集合,在第二扫描模式下得到非完备的第二投影数据集合;基于第一投影数据集合重建物体的第一衰减系数图像,并且从第一衰减系数图像中提取物体的先验结构信息,所述先验结构信息指示边缘的强弱;将提取的先验结构信息作为约束条件,从非完备的第二投影数据集合重建所述物体的第二衰减系数图像。 |
地址 |
100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层 |