发明名称 |
相变化存储器、其写入方法及其读取方法 |
摘要 |
本发明公开了一种相变化存储器、其写入方法及其读取方法。相变化存储器具有多个存储单元。写入方法包括以下步骤:施加至少一加压脉波以老化这些存储单元的至少其中之一;施加一起始脉波至相变化存储器的所有的存储单元,以降低各个存储单元的阻抗;施加一侦测脉波至相变化存储器的所有的存储单元,以侦测其中已老化的部份存储单元与未老化的部份存储单元;施加一设定脉波于已老化的部份存储单元;施加一复位脉波于未老化的部份存储单元。 |
申请公布号 |
CN104241526A |
申请公布日期 |
2014.12.24 |
申请号 |
CN201410208786.6 |
申请日期 |
2014.05.16 |
申请人 |
旺宏电子股份有限公司 |
发明人 |
吴昭谊;李明修 |
分类号 |
H01L45/00(2006.01)I;G11C11/56(2006.01)I;G11C16/02(2006.01)I |
主分类号 |
H01L45/00(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
任岩 |
主权项 |
一种相变化存储器(phase change memory,PCM)的写入方法(writing method),其中该相变化存储器具有多个存储单元,该写入方法包括:施加至少一加压脉波(stress plus)以老化(aging)这些存储单元的至少其中之一;施加一起始脉波(starting pulse)至该相变化存储器的所有的这些存储单元,以降低各该存储单元的阻抗;施加一侦测脉波(detection pulse)至该相变化存储器的所有的这些存储单元,以侦测其中已老化(aged)的部份这些存储单元与未老化的部份这些存储单元;施加一设定脉波(set pulse)于已老化的部份这些存储单元;并且施加一复位脉波(reset pulse)于未老化的部份这些存储单元。 |
地址 |
中国台湾新竹科学工业园区力行路16号 |