显微共聚焦荧光系统

摘要

本实用新型给出一种显微共聚焦荧光系统，包括激光器、第一透镜、第一狭缝板、第二透镜、显微物镜、样品台、第一半反半透镜、滤波片、第二半反半透镜、CCD相机、第三透镜、第二狭缝板、第四透镜、光栅光谱仪、探测器以及计算机；本实用新型的显微共聚焦荧光系统能够对样品的光致发光进行测量，得到光谱图，从而可以对光致发光峰进行分析，进而得到物质的特征电子跃迁，粒子是否有表面缺陷发光，样品的发光性能、能级结构和表面状态等信息。

主权项

一种显微共聚焦荧光系统，包括激光器、第一透镜、第一狭缝板、第二透镜、显微物镜、样品台、第一半反半透镜、滤波片、第二半反半透镜、CCD相机、第三透镜、第二狭缝板、第四透镜、光栅光谱仪、探测器以及计算机；其特征在于，所述激光器的激光发射方向依次设置有第一透镜、第一狭缝板、第二透镜、第一半反半透镜；所述第一半反半透镜将反射的激光通过显微物镜投射到样品台，并通过所述显微物镜收集样品台上样品由激光激发产生的光致发光的荧光；所述第一半反半透镜将收集的样品荧光一路透射至滤波片、第二半反半透镜至CCD相机；另一路透射至第三透镜、第二狭缝板、第四透镜至光栅光谱仪，所述探测器对光栅光谱仪聚焦的光进行探测，并将光信号转化为电信号后传输给计算机。