发明名称 Verfahren zur Herstellung einer Halbleitervorrichtung
摘要 Ein Verfahren zur Herstellung einer Halbleitervorrichtung der vorliegenden Erfindung enthält die folgenden Schritte: (a) Vorbereiten eines Siliciumcarbidsubstrats (1), das einen auf einer Hauptoberfläche ausgebildeten Photoresistfilm (2) enthält, (b) Tropfen einer ersten Entwicklungslösung (3) auf den Photoresistfilm (2), (c) Drehen des Siliciumcarbidsubstrats (1), um die auf den Photoresistfilm (2) getropfte erste Entwicklungslösung (3) ablaufen zu lassen, nachdem seit dem Ende des Schritts (b) eine erste Entwicklungszeit verstrichen ist, (d) Tropfen einer zweiten Entwicklungslösung (3) auf den Photoresistfilm (2) nach dem Schritt (c) und (e) Drehen des Siliciumcarbidsubstrats (1), um die auf den Photoresistfilm (2) getropfte zweite Entwicklungslösung (3) ablaufen zu lassen, nach Verstreichen einer zweiten Entwicklungszeit seit dem Ende des Schritts (d).
申请公布号 DE102014211512(A1) 申请公布日期 2014.12.24
申请号 DE201410211512 申请日期 2014.06.16
申请人 MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION 发明人 SHIKAMA, SHOZO,;AYA, SUNAO,;YUKI, HIDEAKI,
分类号 H01L21/027;G03F7/30 主分类号 H01L21/027
代理机构 代理人
主权项
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