发明名称 |
静电吸盘的制造方法,静电吸盘及等离子体处理装置 |
摘要 |
本发明公开了一种静电吸盘,包括制造静电吸盘的主体部和基座;以及将所述主体部和所述基座连接为一体以形成所述静电吸盘;其中制造静电吸盘主体部的步骤包括形成陶瓷基板;在所述陶瓷基板上沉积具有薄膜电极和第一绝缘层的多层薄膜结构,所述第一绝缘层位于所述陶瓷基板上表面,所述薄膜电极位于所述第一绝缘层上方;在所述多层薄膜结构上沉积抗等离子侵蚀的保护层;以及图形化所述保护层的上表面以形成所述静电吸盘的主体部。本发明能够有效提高静电吸盘的耐等离子体侵蚀性能、结构稳定性及使用寿命。 |
申请公布号 |
CN104241181A |
申请公布日期 |
2014.12.24 |
申请号 |
CN201310227182.1 |
申请日期 |
2013.06.08 |
申请人 |
中微半导体设备(上海)有限公司 |
发明人 |
贺小明;倪图强 |
分类号 |
H01L21/683(2006.01)I;H01J37/32(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/683(2006.01)I |
代理机构 |
上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 |
代理人 |
吴世华;林彦之 |
主权项 |
一种静电吸盘的制造方法,其特征在于,包括以下步骤:制造静电吸盘的主体部和基座,其中制造所述主体部的步骤包括:形成陶瓷基板;在所述陶瓷基板上沉积具有薄膜电极和第一绝缘层的多层薄膜结构,所述第一绝缘层位于所述陶瓷基板上表面,所述薄膜电极位于所述第一绝缘层上方;在所述多层薄膜结构上沉积抗等离子体侵蚀的保护层;以及图形化所述保护层的上表面以形成所述静电吸盘的主体部;以及将所述主体部和所述基座连接为一体以形成所述静电吸盘。 |
地址 |
201201 上海市浦东新区金桥出口加工区(南区)泰华路188号 |