发明名称 一种低漏电型电源钳位ESD保护电路
摘要 本发明涉及集成电路芯片静电放电保护设计的技术领域,具体公开一种低漏电型电源钳位ESD保护电路。本发明公开的低漏电型电源钳位ESD保护电路包括瞬态触发模块、直流电压探测模块以及泄放晶体管。本发明公开的低漏电型电源钳位ESD保护电路在芯片正常工作时,直流电压探测模块到地的电阻很大,当泄放晶体管被触发后,直流电压探测模块到地的电阻变小,以此保证保护电路在芯片正常工作时漏电很小,同时,能提供可靠的ESD防护性能。
申请公布号 CN104242286A 申请公布日期 2014.12.24
申请号 CN201410461419.7 申请日期 2014.09.11
申请人 北京大学 发明人 王源;陆光易;郭海兵;曹健;贾嵩;张兴
分类号 H02H9/04(2006.01)I 主分类号 H02H9/04(2006.01)I
代理机构 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人 郝瑞刚
主权项 一种低漏电型电源钳位ESD保护电路,包括瞬态触发模块、直流电压探测模块以及泄放晶体管;其特征在于,所述瞬态触发模块包括:PMOS晶体管M<sub>p2</sub>,NMOS晶体管M<sub>n2</sub>与M<sub>fb1</sub>,电阻R<sub>1</sub>以及电容C;所述PMOS晶体管M<sub>p2</sub>的栅极与所述NMOS晶体管M<sub>n2</sub>的栅极相连,所述NMOS晶体管M<sub>n2</sub>的源极接地,所述NMOS晶体管M<sub>n2</sub>的漏极与所述PMOS晶体管M<sub>p2</sub>的漏极相连,所述PMOS晶体管M<sub>p2</sub>的源极与所述低漏电型电源钳位ESD保护电路的电源管脚V<sub>DD</sub>相连,所述NMOS晶体管M<sub>fb1</sub>的源极接地,所述NMOS晶体管M<sub>fb1</sub>的漏极与所述PMOS晶体管M<sub>p2</sub>的栅极相连,所述电阻R<sub>1</sub>的一端与所述低漏电型电源钳位ESD保护电路的电源管脚V<sub>DD</sub>相连,所述电阻R<sub>1</sub>的另一端与所述PMOS晶体管M<sub>p2</sub>的栅极相连,所述电容C的一端与所述PMOS晶体管M<sub>p2</sub>的栅极相连,所述电容C的另一端接地;所述直流电压探测模块包括:PMOS晶体管M<sub>p1</sub>,NMOS晶体管M<sub>n1</sub>、M<sub>fb</sub>与M<sub>b</sub>,电阻R以及二极管;所述PMOS晶体管M<sub>p1</sub>的栅极与所述NMOS晶体管M<sub>n1</sub>的栅极相连,所述NMOS晶体管M<sub>n1</sub>的源极接地,所述NMOS晶体管M<sub>n1</sub>的漏极与所述PMOS晶体管M<sub>p1</sub>的漏极相连,所述PMOS晶体管M<sub>p1</sub>的漏极还与所述NMOS晶体管M<sub>fb1</sub>的栅极相连,所述PMOS晶体管M<sub>p1</sub>的源极与所述低漏电型电源钳位ESD保护电路的电源管脚V<sub>DD</sub>相连,所述NMOS晶体管M<sub>fb</sub>的栅极与所述PMOS晶体管M<sub>p1</sub>的漏极相连,所述NMOS晶体管M<sub>fb</sub>的栅极还与所述NMOS晶体管M<sub>fb1</sub>的栅极相连,所述NMOS晶体管M<sub>fb</sub>的源极接地,所述NMOS晶体管M<sub>fb</sub>的漏极与所述PMOS晶体管M<sub>p1</sub>的栅极相连,所述电阻R的一端与所述低漏电型电源钳位ESD保护电路的电源管脚V<sub>DD</sub>相连,所述电阻R的一端还与所述PMOS晶体管M<sub>p1</sub>的源极相连,所述电阻R的另一端与所述NMOS晶体管M<sub>b</sub>的漏极之间正向串联有所述二极管至少一个,所述NMOS晶体管M<sub>b</sub>的源极接地;所述泄放晶体管为NMOS晶体管M<sub>big</sub>,其栅极与所述PMOS晶体管M<sub>p2</sub>的漏极相连,其栅极还与所述NMOS晶体管M<sub>b</sub>的栅极相连,其源极与所述低漏电型电源钳位ESD保护电路的地线V<sub>SS</sub>相连,其漏极与所述低漏电型电源钳位ESD保护电路的电源线V<sub>DD</sub>相连。
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