发明名称 光性量测装置
摘要 本实用新型提供了一种光性量测装置,包含载台、固定环以及积分球。载台具有开口。固定环设置于载台表面,并固定由承载膜与发光二极管晶片所组成的待测物。固定环与待测物设置在载台上,其中至少部分的待测物暴露于开口。积分球设置于对应开口,并包含球形腔体、颈部以及透光基板。颈部连接球形腔体,且颈部定义收光口。透光基板设置于收光口且位于颈部内,其中待测物覆于透光基板上的部分与载台表面的垂直距离大于或等于待测物其他部分与载台表面的垂直距离。因此,承载膜可被撑平,并藉此提升待测物的平整性。
申请公布号 CN204043786U 申请公布日期 2014.12.24
申请号 CN201420439287.3 申请日期 2014.08.06
申请人 旺矽科技股份有限公司 发明人 彭柏翰;陈建羽;林宏毅
分类号 G01J1/06(2006.01)I;G01J1/04(2006.01)I 主分类号 G01J1/06(2006.01)I
代理机构 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人 董惠石
主权项 一种光性量测装置,其特征在于,所述光性量测装置包含;一载台,具有一开口;一固定环,设置于所述载台表面,并固定由一承载膜与多个发光二极管晶片所组成的一待测物,所述固定环与所述待测物设置在所述载台上,其中至少部分的所述待测物暴露于所述开口;以及一积分球,设置于对应所述开口,包含:一球形腔体;一颈部,连接所述球形腔体,且所述颈部定义一收光口;以及一透光基板,设置于所述收光口且位于所述颈部内,其中所述待测物覆于所述透光基板上的部分与所述载台表面的垂直距离大于或等于所述待测物其他部分与所述载台表面的垂直距离。
地址 中国台湾新竹县竹北市中和街155号
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