发明名称 |
芯片自动测试装置 |
摘要 |
一种芯片自动测试装置,所述装置包括:进料台,适于将多颗待测芯片一次性送入导轨;导轨,第一端与所述进料台连接,适于接收所述进料台一次性送入的多颗待测芯片,第二端与出料台连接,适于将经过测试的芯片输出;阻挡部件,固定在所述导轨的入口,适于阻挡所述多颗待测芯片在重力作用下的滑动;控制器,适于控制所述阻挡装置移动以阻挡或释放所述多颗待测芯片;测试台,与所述导轨连接,适于对所述多颗待测芯片进行测试;出料台,适于接收经过所述测试台测试的多颗芯片,根据测试结果,将所述经过测试的芯片分类输出。采用所述芯片自动测试装置,可以缩短芯片的测试时间,提高芯片的测试产出效率。 |
申请公布号 |
CN204044314U |
申请公布日期 |
2014.12.24 |
申请号 |
CN201420498970.4 |
申请日期 |
2014.08.30 |
申请人 |
上海海尔集成电路有限公司 |
发明人 |
舒慧君;周彦杰;王亦农 |
分类号 |
G01R31/28(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/28(2006.01)I |
代理机构 |
北京集佳知识产权代理有限公司 11227 |
代理人 |
潘彦君;骆苏华 |
主权项 |
一种芯片自动测试装置,其特征在于,包括:进料台,适于将多颗待测芯片一次性送入导轨;导轨,第一端与所述进料台连接,适于接收所述进料台一次性送入的多颗待测芯片,第二端与出料台连接,适于将经过测试的芯片输出,其中,所述进料台的水平高度高于所述出料台的水平高度;阻挡部件,固定在所述导轨的入口,适于阻挡所述多颗待测芯片在重力作用下的滑动;控制器,通过驱动部件与所述阻挡部件电连接,适于控制所述阻挡装置移动以阻挡或释放所述多颗待测芯片;测试台,与所述导轨连接,适于当所述阻挡装置释放所述多颗待测芯片时,接收所述多颗待测芯片,并对所述多颗待测芯片进行测试;出料台,适于接收经过所述测试台测试的多颗芯片,根据测试结果,将所述经过测试的芯片分类输出。 |
地址 |
200235 上海市徐汇区龙漕路299号天华信息科技园2A楼5层 |