发明名称 无表层约束层析反演静校正方法
摘要 本发明是提出了完全不依赖表层调查资料的无表层约束层析反演静校正方法,直接对初至数据在CMP域分段,建立CMP段作为控制点,对每一段内所有CMP点初至按偏移距排列形成时距图;然后对时距图采用折射法进行解释,得到该CMP段的解释结果;将所有的CMP段解释结果进行内插就得到了整个测线表层初始模型;最后以此初始模型约束通过层析反演表层最终模型,计算静校正量。本发明在复杂山地区提高地表的约束控制密度,同时利用远偏移距折射初至信息提高对地表纵向的解释深度,克服了复杂山地微测井密度和深度难以满足建模要求的难点,解决复杂山地表层建模与静校正问题。
申请公布号 CN104237943A 申请公布日期 2014.12.24
申请号 CN201310240759.2 申请日期 2013.06.18
申请人 中国石油天然气集团公司;中国石油集团东方地球物理勘探有限责任公司 发明人 王海立;宁宏晓;马立新;于宝华;赵荣艳
分类号 G01V1/40(2006.01)I 主分类号 G01V1/40(2006.01)I
代理机构 北京市中实友知识产权代理有限责任公司 11013 代理人 刘天语;武尚修
主权项 一种无表层约束层析反演静校正方法,特点是通过以下步骤实现: 1)将探区整条测线按CMP桩号进行分段; 2)对落在每一段或块内的所有CMP的初至按绝对偏移距排序,形成CMP段或块的时距图; 3)通过线性拟合时距曲线的斜率求出低降速带不同地层的速度,再利用折射时距曲线与时间轴的交点求出交叉时t,进而通过折射波时距方程求出各层厚度,从而求出该CMP段对应的近地表速度、厚度信息; 4)将所有CMP段的速度、厚度信息内插出整条测线的表层速度、厚度信息,得到表层模型; 5)以上述表层模型为约束条件,进行初至层析反演近地表最终模型,计算得到静校正量。 
地址 100007 北京市东城区东直门北大街9号中国石油大厦