发明名称 自动分析装置
摘要 本发明提供一种能够高效地进行测量的自动分析装置。该自动分析装置具有:第一试剂盘(7),其载置收纳了用于反应的试剂的试剂容器;第二试剂盘(16);以及试剂容器输送机构(17),其在上述第一试剂盘和上述第二试剂盘之间输送试剂容器。计算机(20)的判定部(20A)以及驱动控制部(20B)通过试剂容器输送机构(17)将设置在第二试剂盘(16)中的试剂容器输送给第一试剂盘(7),使用输送到第一试剂盘(7)中的试剂容器所保持的试剂至少执行校准和精度管理测量中的精度管理测量后,使用试剂容器输送机构(17)将试剂容器返回到第二试剂盘(16)。
申请公布号 CN104246510A 申请公布日期 2014.12.24
申请号 CN201380018759.6 申请日期 2013.03.29
申请人 株式会社日立高新技术 发明人 中泽隆史;铃木庆弘;有贺洋一
分类号 G01N35/00(2006.01)I 主分类号 G01N35/00(2006.01)I
代理机构 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人 许静;李家浩
主权项 一种自动分析装置,具备:试样盘,其载置收纳了被分析试样、标准液、精度管理试样的试样容器;第一试剂盘,其载置收纳了用于反应的试剂的试剂容器;反应盘,其载置反应容器,该反应容器使得从载置在上述试剂盘中的试剂容器分注后的试样和从载置在上述第一试剂盘中的试剂容器分注后的试剂进行反应;光度计,其检测透过上述反应容器的光;第二试剂盘,其载置收纳了用于反应的试剂的试剂容器,并且与上述第一试剂盘分开设置;以及试剂容器输送机构,其在上述第一试剂盘和上述第二试剂盘之间输送试剂容器,上述自动分析装置使用被输送到上述第一试剂盘的试剂容器所保持的试剂和上述标准液来实施校准,上述自动分析装置使用被输送到上述第一试剂盘的试剂容器所保持的试剂和上述精度管理试样来实施精度管理测量,上述自动分析装置的特征在于,通过上述试剂容器输送机构将设置在上述第二试剂盘中的试剂容器开拴后,输送到上述第一试剂盘,具备运算控制部,其使用被输送到上述第一试剂盘的试剂容器所保持的试剂,至少执行上述校准和上述精度管理测量中的上述精度管理测量后,使用上述试剂容器输送机构,使上述试剂容器返回上述第二试剂盘中。
地址 日本东京都