发明名称 Kontur-und Oberflächentextur-Messinstrument und Kontur- und Oberflächentextur-Messverfahren
摘要 <p>Es wird ein Kontur- und Oberflächentextur-Messinstrument zum Messen der Kontur und der Oberflächentextur einer Oberfläche eines Werkstücks W offenbart, dessen Konfiguration einfach ist und das zu geringen Kosten realisiert werden kann, und das ein Verlagerungssignal mit hoher Auflösung und hoher Linearität in einem weiten Messbereich erzeugt, wobei das Kontur- und Oberflächentextur-Messinstrument einen Messteil 13 mit einer Sonde 7, die dazu konfiguriert ist, mit der Oberfläche des Werkstücks W in Kontakt zu kommen und ihre Position vertikal zu verändern, einen Bewegungsmechanismus 14, der dazu konfiguriert ist, das Werkstück relativ zur Sonde zu bewegen, einen Arm 12 mit dem Messteil an einem Ende und der dazu konfiguriert ist, eine Verlagerung der Sonde zu übertragen und sich mit einem Drehpunkt 16 als Mittelpunkt zu drehen, und einen Detektionsmechanismus 51 vom Differentialtransformator-Typ und einen Detektionsmechanismus 52 vom Skalen-Typ, die an dem Arm oder an einer gegenüber dem Arm festen Position befestigt und dazu konfiguriert sind, eine Verlagerung der Sonde zu erfassen, aufweist.</p>
申请公布号 DE112012006115(T5) 申请公布日期 2014.12.24
申请号 DE20121106115T 申请日期 2012.12.10
申请人 TOKYO SEIMITSU CO.,LTD. 发明人 YAMAUCHI, YASUHIRO;FUJITA, TAKASHI
分类号 G01B21/20;G01B5/20;G01B5/28;G01B21/30 主分类号 G01B21/20
代理机构 代理人
主权项
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