发明名称 |
半导体结构及其制造方法 |
摘要 |
一种半导体结构及其制造方法。半导体结构包括一基底、一堆叠结构及一掺杂层。堆叠结构形成于基底上,其中堆叠结构系包括数条导电条纹及数条绝缘条纹,该些导电条纹之一者位于相邻二绝缘条纹之间,堆叠结构具有一第一侧壁,第一侧壁之长边沿一通道方向延伸。掺杂层形成于第一侧壁中,掺杂层系由一离子布植作用于第一侧壁所形成,其中离子布植之一布植方向与第一侧壁夹一锐角。 |
申请公布号 |
TWI466177 |
申请公布日期 |
2014.12.21 |
申请号 |
TW101112415 |
申请日期 |
2012.04.09 |
申请人 |
旺宏电子股份有限公司 新竹市新竹科学工业园区力行路16号 |
发明人 |
陈士弘;吕函庭;谢光宇 |
分类号 |
H01L21/265;H01L27/04 |
主分类号 |
H01L21/265 |
代理机构 |
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代理人 |
祁明辉 台北市信义区忠孝东路5段510号22楼;林素华 台北市信义区忠孝东路5段510号22楼 |
主权项 |
一种半导体结构,包括:一基底;一堆叠结构,形成于该基底上,其中该堆叠结构系包括复数条导电条纹及复数条绝缘条纹,该些导电条纹之一者位于相邻二该绝缘条纹之间,该堆叠结构具有一第一侧壁,该第一侧壁之长边沿一通道方向延伸;以及一掺杂层,形成于该第一侧壁中,该掺杂层系由一离子布植作用于该第一侧壁所形成,其中该离子布植之一布植方向与该第一侧壁夹一锐角。 |
地址 |
新竹市新竹科学工业园区力行路16号 |