发明名称 半导体结构及其制造方法
摘要 一种半导体结构及其制造方法。半导体结构包括一基底、一堆叠结构及一掺杂层。堆叠结构形成于基底上,其中堆叠结构系包括数条导电条纹及数条绝缘条纹,该些导电条纹之一者位于相邻二绝缘条纹之间,堆叠结构具有一第一侧壁,第一侧壁之长边沿一通道方向延伸。掺杂层形成于第一侧壁中,掺杂层系由一离子布植作用于第一侧壁所形成,其中离子布植之一布植方向与第一侧壁夹一锐角。
申请公布号 TWI466177 申请公布日期 2014.12.21
申请号 TW101112415 申请日期 2012.04.09
申请人 旺宏电子股份有限公司 新竹市新竹科学工业园区力行路16号 发明人 陈士弘;吕函庭;谢光宇
分类号 H01L21/265;H01L27/04 主分类号 H01L21/265
代理机构 代理人 祁明辉 台北市信义区忠孝东路5段510号22楼;林素华 台北市信义区忠孝东路5段510号22楼
主权项 一种半导体结构,包括:一基底;一堆叠结构,形成于该基底上,其中该堆叠结构系包括复数条导电条纹及复数条绝缘条纹,该些导电条纹之一者位于相邻二该绝缘条纹之间,该堆叠结构具有一第一侧壁,该第一侧壁之长边沿一通道方向延伸;以及一掺杂层,形成于该第一侧壁中,该掺杂层系由一离子布植作用于该第一侧壁所形成,其中该离子布植之一布植方向与该第一侧壁夹一锐角。
地址 新竹市新竹科学工业园区力行路16号