发明名称 平衡侦测光谱域光学同调断层扫描系统
摘要 本发明揭示一种平衡侦测光谱域光学同调断层扫描系统,光源模组发射出之光线L依序经过第二分光镜、第一分光镜、接物镜,而至样品,光线L系依序通过第二分光镜、第一分光镜而分别至反射镜及样品,再同时反射至第一分光镜而分别透过第一分光镜及第二分光镜而折射出光线L1及L2而至第一准直仪及第二准直仪,光线L1与L2具有180°之相位差;藉此,当第一准直仪及第二准直仪将光线L1与光线L2分别传输至光谱仪接收并相减后,可提供更有效率的背景杂讯抑制,包括直流杂讯以及在样品内每一反射面间之光线间干涉所造成的低频杂讯,并得到两倍讯号的提升。
申请公布号 TWI465686 申请公布日期 2014.12.21
申请号 TW102101752 申请日期 2013.01.17
申请人 国立阳明大学 台北市北投区立农街2段155号 发明人 郭文娟
分类号 G01B9/02;G01N21/17 主分类号 G01B9/02
代理机构 代理人 蔡坤旺 台北市中山区长安东路2段81号3楼之1
主权项 一种平衡侦测光谱域光学同调断层扫描系统,包括一第一分光镜、一第二分光镜、一第一准直仪、一第二准直仪、一接物镜、一光源模组、一光谱分析模组、一光纤以及一狭缝,其中:该接物镜轴向的一端系邻近一样品设置;该第一分光镜系邻近该接物镜轴向远离该样品之一端设置;该第二分光镜系该邻近第一分光镜远离该接物镜之一端设置;该第一准直仪系设置在该第一分光镜横向方向之一侧;该第二准直仪系设置在该第二分光镜之横向方向的一侧;该光源模组系设置在邻近该第二分光镜远离该第一分光镜之一端;以及该光纤的一端系与该第一准直仪及该第二准直仪连接,该光纤的另一端系透过该狭缝而与该光谱分析模组连接,而该光谱分析模组的另一端系连接一处理单元;其中,该光源模组发射出之一光线L系依序通过该第二分光镜、该第一分光镜而分别至该反射镜及该样品,再同时反射至该第一分光镜而分别透过该第一分光镜及该第二分光镜折射出一光线L1及一光线L2,再传输至该第一准直仪及该第二准直仪,该光线L1与该光线L2具有180°之相位差。
地址 台北市北投区立农街2段155号