发明名称 |
测试系统 |
摘要 |
一种测试系统,包含:一内自测电路,用以产生一第一讯号;一储存装置,用以储存该第一讯号以形成一第二讯号;一第一逻辑电路,用以产生一第三讯号;一第二逻辑电路;一暂存器;以及一旁通电路;其中于一第一模式时,该内自测电路传送该第一讯号至该储存装置,且该储存装置输出该第二讯号至该暂存器进行暂存后,该暂存器将暂存的该第二讯号传送至该内自测电路以进行对该储存装置之测试;于一第二模式时,该第一逻辑电路传送一第三讯号至该暂存器进行暂存后,该暂存器将暂存的该第三讯号传送至该第二逻辑电路。 |
申请公布号 |
TWI466124 |
申请公布日期 |
2014.12.21 |
申请号 |
TW100118611 |
申请日期 |
2011.05.27 |
申请人 |
瑞昱半导体股份有限公司 新竹市新竹科学园区创新二路2号 |
发明人 |
郭硕芬;李日农;巫松洸 |
分类号 |
G11C29/12 |
主分类号 |
G11C29/12 |
代理机构 |
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代理人 |
吴丰任 新北市永和区福和路389号6楼之3;戴俊彦 新北市永和区福和路389号6楼之3 |
主权项 |
一种测试系统,包含:一内自测电路,用以产生一第一讯号;一储存装置,耦接至该内自测电路,用以储存该第一讯号以形成一第二讯号;一第一逻辑电路,耦接至该储存装置,用以产生一第三讯号;一第二逻辑电路,耦接至该储存装置;一暂存器,包含一输入端以及一输出端,该输入端耦接至该第一逻辑电路以及该储存装置,该输出端耦接该内自测电路以及该第二逻辑电路;以及一旁通电路,耦接至该内自测电路、该第一逻辑电路以及该暂存器;其中于一第一模式时,该内自测电路传送该第一讯号至该储存装置,且该储存装置输出该第二讯号至该暂存器进行暂存后,该暂存器将暂存的该第二讯号传送至该内自测电路以进行对该储存装置之测试;于一第二模式时,该第一逻辑电路经由该旁通电路传送该第三讯号至该暂存器进行暂存后,该暂存器将暂存的该第三讯号传送至该第二逻辑电路,以进行扫瞄测试。 |
地址 |
新竹市新竹科学园区创新二路2号 |