发明名称 半导体封装件、其制造方法及重布晶片封胶体的制造方法
摘要 一种半导体封装件、其制造方法及重布晶片封胶体的制造方法。半导体封装件包括一半导体晶片、一封胶、一第一介电层、一图案化导电层及一第二介电层。半导体晶片包括一接垫并具有一主动表面及一对位标记,对位标记位于半导体晶片之主动表面的几何中心。封胶包覆半导体晶片之侧面,以暴露出主动表面。第一介电层形成于封胶及主动表面之上方。图案化导电层形成于第一介电层。第二介电层形成于图案化导电层之一部份。
申请公布号 TWI466259 申请公布日期 2014.12.21
申请号 TW098124625 申请日期 2009.07.21
申请人 日月光半导体制造股份有限公司 高雄市楠梓加工区经三路26号 发明人 谢爵安;杨宏仁;黄敏龙
分类号 H01L23/544;G03F9/00;H01L23/28 主分类号 H01L23/544
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项 一种半导体封装件,至少包括:一半导体晶片,包括一接垫及一对位标记并具有一主动表面,该对位标记位于该半导体晶片之该主动表面的几何中心;一封胶,系包覆该半导体晶片之侧面,以暴露出该主动表面;一第一介电层,形成于该封胶及该主动表面之上方,该第一介电层具有一第一开孔及一第一对位结构,该第一对位结构的外型及位置分别对应于该对位标记的外型及位置,该第一开孔暴露出该接垫;一图案化导电层,形成于该接垫之一部份及该第一介电层;以及一第二介电层,形成于该图案化导电层之一部份。
地址 高雄市楠梓加工区经三路26号