发明名称 测试用接触导体介面结构
摘要 本创作系有关于一种「测试用接触导体介面结构」,其为一电子零件测试装置,该装置包括有一绝缘导正框板、一固定座与一电路板,该装置能用以就待测试物件进行导电测试。其特征在于该固定座之各开槽中设置有一导电体,该导电体一顶部之压制部上方设置有一压制件,又该导电体底部设计有一缺口,能用以嵌合至该开槽中之一凸块。藉此,该整排之导电体呈近乎一直线排列,能避免前后曲状、翘起或接触不确实等情形发生。
申请公布号 TWM492442 申请公布日期 2014.12.21
申请号 TW103214692 申请日期 2014.08.18
申请人 林丽环 桃园县杨梅市益新三街9巷7号 发明人 林丽环
分类号 G01R31/303 主分类号 G01R31/303
代理机构 代理人 曾耀陞 桃园县中坜市环西路2段1号4楼
主权项 一种测试用接触导体介面结构,包括:一绝缘导正框板,中央开设有一开口;一固定座,叠设连组于该绝缘导正框板下方,该固定座位于该开口下方,该固定座上设置有复数开槽;一电路板,叠设连组于该固定座下方,该电路板上设置有复数与该各开槽连通之接点;其特征为:该各开槽中,设置有一导电体,该导电体之一顶部端缘设置有一上接触部,该上接触部旁缘连接设有一压制部;又该导电体底部凹设有一缺口,且该缺口旁缘设有一下接触部;该导电体之压制部上方设置有一压制件;又该开槽内底部设置有一凸块,该凸块提供该导电体底部之缺口嵌合。
地址 桃园县杨梅市益新三街9巷7号