| 摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Vermessen eines Werkstücks mit Hilfe des CCD- oder CMOS-Sensors eines Koordinatenmessgeräts, wobei von dem Werkstück mehrere Bilder in unveränderter Lage mit dem CCD- oder CMOS-Sensor aufgenommen werden, die Aufnahmebedingungen für mindestens zwei Bilder verändert werden und die Daten dieser mindestens zwei aufgenommenen Bilder zumindest teilweise dazu verwendet werden, einen neuen Datensatz für eine Aufnahme des aufgenommenen Werkstücks zu erzeugen.</p> |
