| 摘要 |
Ein integrierter Selbsttest für eine Stapelspeicherarchitektur. Eine Ausführungsform eines Speicherbauelements schließt einen Speicherstapel ein, der ein oder mehrere DRAM-(dynamischer Random Access Memory)-Elemente einschließt; und ein Systemelement zur Steuerung des Speicherstapels. Das Systemelement schließt eine integrierte Selbsttest-(BIST)-Engine ein, um ein Schreibprüfereignis oder ein Leseprüfereignis für den Speicherstapel zu generieren, eine Prüfschnittstelle, um Prüfdaten für das Schreibprüfereignis oder die Leseprüfereignisse von der BIST-Engine zu empfangen, und einen Memory-Controller, wobei die Speichersteuerung wenigstens einen Teil der Prüfdaten von der Prüfschnittstelle empfängt und das Schreibprüfereignis oder Leseprüfereignis bei den DRAM-Elementen des Speicherstapels implementiert. |
