发明名称 | 一种对阻变存储器阵列进行测试的系统 | ||
摘要 | 本发明公开了一种对阻变存储器阵列进行测试的系统,包括:探针台,用于承载待测阻变存储器阵列;探针卡,用于实现硬件地址电路与待测阻变存储器阵列的良好连接;硬件地址选择电路,用于完成待测阻变存储器阵列指定端口的地址译码和选通工作;恒压源表,用于向硬件地址选择电路提供直流电压;测量源表,用于提供器件测试所需要的操作电压;控制主机,用于控制整个系统进行不同类型的测试操作,并完成测试结果数据的输出和统计分析。针对具有特殊结构阻变存储器阵列的性能无法评估的问题,本发明利用现有实验设备,不仅低成本地实现了器件性能的测试和评估,而其为后续其它阵列结构器件的测试和检测提供了一种思路和方法。 | ||
申请公布号 | CN104217766A | 申请公布日期 | 2014.12.17 |
申请号 | CN201310218444.8 | 申请日期 | 2013.06.04 |
申请人 | 中国科学院微电子研究所 | 发明人 | 姚志宏;余兆安;吕杭炳;霍宗亮;谢常青;刘明 |
分类号 | G11C29/56(2006.01)I | 主分类号 | G11C29/56(2006.01)I |
代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人 | 任岩 |
主权项 | 一种对阻变存储器阵列进行测试的系统,其特征在于,该系统包括:探针台,用于承载待测阻变存储器阵列;探针卡,用于实现硬件地址电路与待测阻变存储器阵列的良好连接;硬件地址选择电路,用于完成待测阻变存储器阵列指定端口的地址译码和选通工作;恒压源表,用于向硬件地址选择电路提供直流电压;测量源表,用于提供器件测试所需要的操作电压;以及控制主机,用于控制整个系统进行不同类型的测试操作,并完成测试结果数据的输出和统计分析。 | ||
地址 | 100083 北京市朝阳区北土城西路3号 |