发明名称 |
磁控溅射设备及磁控溅射方法 |
摘要 |
本发明公开一种磁控溅射设备及磁控溅射方法,涉及磁控溅射技术领域,可检测到部分靶材是否被耗尽,从而能够根据实际情况对靶材进行更换,提高了靶材的实际利用率。该磁控溅射设备包括:一密封腔室以及设置于所述密封腔室中且相对设置的阳极和阴极,与所述阳极和阴极连接的电源。所述阴极包括与所述电源连接的导电背板;设置于所述导电背板靠近所述阳极一侧的靶材;设置于所述导电背板与所述靶材之间的绝缘层,所述靶材电连接于所述导电背板。 |
申请公布号 |
CN104213089A |
申请公布日期 |
2014.12.17 |
申请号 |
CN201410418300.1 |
申请日期 |
2014.08.22 |
申请人 |
京东方科技集团股份有限公司;北京京东方光电科技有限公司 |
发明人 |
张峰;杜晓健;辛旭;李岩 |
分类号 |
C23C14/35(2006.01)I;C23C14/54(2006.01)I |
主分类号 |
C23C14/35(2006.01)I |
代理机构 |
北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 |
代理人 |
申健 |
主权项 |
一种磁控溅射设备,包括:一密封腔室以及设置于所述密封腔室中且相对设置的阳极和阴极,与所述阳极和阴极连接的电源,其特征在于,所述阴极包括:与所述电源连接的导电背板;设置于所述导电背板靠近所述阳极一侧的靶材;设置于所述导电背板与所述靶材之间的绝缘层,所述靶材电连接于所述导电背板。 |
地址 |
100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号 |