闪存芯片操作时间的测量方法

摘要

本发明提出了一种闪存芯片操作时间的测量方法，利用了同一测试单元内每颗被测试闪存芯片可以单独分配ECR地址区域的特点，将ECR作为每个待测试闪存芯片的计数器，从而能够精确、同时的测量多颗闪存芯片操作时间，提高测量的效率。

主权项

一种闪存芯片操作时间的测量方法，其特征在于，包括步骤：将每颗待测闪存芯片均划分出一块ECR地址区域；设置所述闪存芯片的输出引脚期望值；发送操作开始指令，对每颗闪存芯片进行周期性采样，由每个ECR记录分别每颗闪存芯片的采样信号的个数，直至所述ECR采样到所述闪存芯片的输出引脚的期望值后停止采样；分别每个ECR记录的个数及采样周期得出每颗闪存芯片的操作时间。