| 发明名称 | 物面形变测量方法和测量系统 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种物面形变测量方法和测量系统，其中，一种物面形变测量方法包括：确定待测物面的三维形貌数据；通过激光散斑干涉测量确定所述待测物面的原始形变测量数据；根据所述三维形貌数据校正所述形变测量数据，以得到所述待测物面的最终三维形变分布数据。本发明可实现对一定曲率的物面形变数据的精密测量和校正，具有广泛的应用前景。 | ||
| 申请公布号 | CN104215193A | 申请公布日期 | 2014.12.17 |
| 申请号 | CN201410426311.4 | 申请日期 | 2014.08.26 |
| 申请人 | 北京信息科技大学 | 发明人 | 吴思进 |
| 分类号 | G01B11/16(2006.01)I | 主分类号 | G01B11/16(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京金律言科知识产权代理事务所(普通合伙) 11461 | 代理人 | 逯博;罗延红 |
| 主权项 | 一种物面形变测量方法，其特征在于，包括：确定待测物面的三维形貌数据；通过激光散斑干涉测量确定所述待测物面的原始三维形变分布数据；根据所述三维形貌数据校正所述原始三维形变分布数据，以得到所述待测物面的最终三维形变分布数据。 | ||
| 地址 | 100192 北京市海淀区小营东路12号 | ||