发明名称 | 用于测量折射率的光学系统及一种小型折射率测量装置 | ||
摘要 | 本实用新型提供一种用于测量折射率的光学系统及一种小型折射率测量装置,其光学系统中,光源与光电传感器在光学棱镜的同侧,光源入射光线的中心方向与光电传感器检测的出射光线的中心方向平行,且在同一平面上,因此相对于发散光线的光学系统来说,在进行封装时,可以使用直径更小的封装壳体,即将有效的光程最大限度的控制在最小的空间范围内,而又不造成光学系统内的光线丢失。将上述光学系统应用至折射率测量装置中时,能够有效缩小折射率测量装置的产品尺寸,使折射计设计的更加小型,携带更加方便。 | ||
申请公布号 | CN204028001U | 申请公布日期 | 2014.12.17 |
申请号 | CN201420472561.7 | 申请日期 | 2014.08.20 |
申请人 | 北京领航力嘉机电有限公司 | 发明人 | 马玉峰 |
分类号 | G01N21/41(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/41(2006.01)I |
代理机构 | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人 | 李敏 |
主权项 | 一种用于测量折射率的光学系统,其特征在于,包括:光学棱镜,其包括第一面、第二面和第三面,所述第三面与所述第二面垂直设置,所述第一面与所述第二面中垂线间的夹角为锐角,且所述第二面上成型有测量凸台,所述测量凸台与被测物体接触;光源,设置于所述光学棱镜的一侧,且所述光源发出的第一光线通过所述第一面入射至所述光学棱镜的测量凸台与被测物体的分界面;光电传感器,与所述光源位于所述光学棱镜的同一侧,接收所述第一光线经所述分界面全反射后通过所述第一面出射的第二光线。 | ||
地址 | 100071 北京市丰台区科学城星火路10号院B座466室 |