发明名称 |
测量AR减反膜厚度和折射率的装置 |
摘要 |
本发明公开了一种测量AR减反膜厚度和折射率的装置,包括至少两个光源和一个计算装置,以及对应每个光源的光学系统、光线接收器和光谱分析装置,所述每个光源的光线通过对应的光学系统以大于0度且小于90度的倾斜角照射至AR减反膜膜面同一侧的同一点,且反射后的光线被对应的光线接收器接收,所述每个光线接收器通过光路或光纤连接对应的光谱分析装置,且每个光谱分析装置均通过数据线连接计算装置,本发明的AR减反膜测量装置具有结构简单,测量速度快,测量准确的特点。与椭偏仪相比,本装置无活动部件,所以运行的可靠性很高,同时信号采集速度也很高,所以可以用于在线测量。 |
申请公布号 |
CN104215187A |
申请公布日期 |
2014.12.17 |
申请号 |
CN201310210421.2 |
申请日期 |
2013.05.31 |
申请人 |
昆山胜泽光电科技有限公司 |
发明人 |
朱峥嵘;埃德加·吉尼奥;赵连芳 |
分类号 |
G01B11/06(2006.01)I;G01N21/41(2006.01)I |
主分类号 |
G01B11/06(2006.01)I |
代理机构 |
南京正联知识产权代理有限公司 32243 |
代理人 |
郭俊玲 |
主权项 |
一种测量AR减反膜厚度和折射率的装置,其特征在于:包括至少两个光源(1)和一个计算装置(2),以及对应每个光源(1)的光学系统(3)、光线接收器(4)和光谱分析装置(5),所述每个光源(1)的光线通过对应的光学系统(2)以大于0度且小于90度的倾斜角照射至AR减反膜(6)膜面同一侧的同一点,且反射后的光线被对应的光线接收器(4)接收,所述每个光线接收器(4)通过光纤或光路连接对应的光谱分析装置(5),且每个光谱分析装置(5)均通过数据线最终连接计算装置(2)。 |
地址 |
215300 江苏省苏州市昆山市开发区前进东路科技广场902室 |