发明名称 |
一种利用锡须生长制备一维纳米线的方法 |
摘要 |
本发明公开了一种利用锡须生长制备一维纳米线的方法,在基片上沉积金属层,利用光刻工艺形成条纹状的纳米级金属细线;将金属细线的两端接电极,通电,促使金属层加速生长晶须得到一维纳米线。本发明能够有效控制纳米级细线的直径大小和长度,生长出来的一维纳米线直径均匀,并直接在基底上生成,有利于三维封装的连接。 |
申请公布号 |
CN102605429B |
申请公布日期 |
2014.12.17 |
申请号 |
CN201210068606.X |
申请日期 |
2012.03.15 |
申请人 |
华中科技大学 |
发明人 |
刘胜;汪学方;吕植成;袁娇娇;胡畅;张学斌;吕亚平 |
分类号 |
C30B29/62(2006.01)I;C30B29/02(2006.01)I;B82Y40/00(2011.01)I |
主分类号 |
C30B29/62(2006.01)I |
代理机构 |
华中科技大学专利中心 42201 |
代理人 |
李智 |
主权项 |
一种利用锡须生长制备一维纳米线的方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)在基片表面沉积金属层;(2)利用光刻显影和金属层腐蚀工艺,在基片表面形成多根纳米级金属细线;(3)在基片表面相邻金属细线之间旋涂光刻胶;(4)去除金属细线表面的氧化层;(5)将金属细线的两端接电极通电,促进金属细线表面生长金属晶须得到一维金属纳米线;所述步骤(2)具体为:首先在金属层表面旋涂光刻胶,然后采用纳米级条纹状图案的掩模板对其进行光刻,再显影得到多根纳米级光刻胶细线,最后腐蚀掉基片表面光刻胶细线以外的金属层,即得纳米级金属细线;所述步骤(3)具体为:在基片整个表面旋涂光刻胶,利用光刻显影工艺去除金属细线表面的光刻胶;所述金属层为Cd、Sn、Zn、Al或Ag中的任意一种。 |
地址 |
430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号 |