发明名称 |
一种基于近景摄影测量技术的半孔率统计方法 |
摘要 |
本发明公开了一种基于近景摄影测量技术的半孔率统计方法,采用近景摄影技术对爆后台阶预裂面和光爆面进行快速非接触测量,获取预裂面和光爆面空间三维信息,建立台阶面三维DEM模型。通过影像识别技术,划分预裂孔和光爆孔的孔痕,并根据孔痕在预裂面和光爆面上的不平整度来划分每一个炮孔半孔的长度。统计所有炮孔的半孔信息,计算得出评价此次爆破效果的半孔率。优点是:本发明可以极大地提高半孔率的统计精度,减小统计误差,降低作业成本;采用数字近景摄影测量技术,可以获取更加完整的预裂面和光爆面信息,有利于爆区信息的存储,同时也可以提高预裂和光爆效果评价的可靠度。 |
申请公布号 |
CN104217199A |
申请公布日期 |
2014.12.17 |
申请号 |
CN201410467656.4 |
申请日期 |
2014.09.15 |
申请人 |
武汉大学 |
发明人 |
刘亮;卢文波;严鹏;陈明;张玉柱;冷振东 |
分类号 |
G06K9/00(2006.01)I;G06T7/00(2006.01)I;G01C11/00(2006.01)I;G01C11/12(2006.01)I |
主分类号 |
G06K9/00(2006.01)I |
代理机构 |
武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 |
代理人 |
温珊姗 |
主权项 |
一种基于近景摄影测量技术的半孔率统计方法,其特征在于包括如下步骤:(1)在摄影区布设3~4个控制点,并利用测站基点和全站仪测取控制点的坐标,形成控制点坐标文件;(2)从不同的角度拍摄待爆后预裂面或光爆面的像片,利用数字摄影测量软件进行像物关系模型的建立,获取拍摄区及其邻近区域的数字高程模型,划分预裂面或光爆面统计范围;(3)通过图像识别技术,在数字高程模型上,识别出每一个预裂孔或光爆孔的孔痕,并统计每一个炮孔的长度;(4)根据每一个半孔空痕的三维点坐标,计算出爆区每一个炮孔的空间直线,统计预裂面或光爆面炮孔所在区域的凸凹程度;(5)统计每一段完整的半孔长度,进行累加,得到所有的半孔长度L<sub>1</sub>,L<sub>1</sub>与炮孔总长度L<sub>0</sub>的比值,为该区域的半孔率。 |
地址 |
430072 湖北省武汉市武昌区珞珈山武汉大学 |