发明名称 |
用于检测图像传感器的装置及检测方法 |
摘要 |
本发明公开一种用于检测图像传感器的装置,按照光传播的方向依次包括:光源、光衰减器、第一透镜组、第二透镜组、光阑及图像传感器,通过调整所述光衰减器的透过率以获得不同光光强下所述图像传感器的曝光图像。本发明同时公开一种用于检测图像传感器的方法,包括:获得不同光强下的传感器曝光图像,根据所述曝光图像标定所述传感器的坏点,根据坏簇定义标定出传感器的坏簇区域,对所述坏簇区域排序后寻找测量效果好的区域。 |
申请公布号 |
CN102685544B |
申请公布日期 |
2014.12.17 |
申请号 |
CN201110065118.9 |
申请日期 |
2011.03.17 |
申请人 |
上海微电子装备有限公司 |
发明人 |
葛亮;王帆 |
分类号 |
H04N17/00(2006.01)I;H04N5/357(2011.01)I |
主分类号 |
H04N17/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京连和连知识产权代理有限公司 11278 |
代理人 |
王光辉 |
主权项 |
一种用于检测图像传感器的装置,按照光传播的方向依次包括:光源、光衰减器、第一透镜组、第二透镜组、光阑及图像传感器,其特征在于,通过调整所述光衰减器的透过率以获得不同光光强下所述图像传感器的曝光图像,所述曝光图像用于标定所述传感器的坏点,不完全包含坏点的区域为坏簇,根据坏簇定义标定出传感器的坏簇区域,所述坏簇区域用于在排序后寻找测量效果好的区域,所述测量效果好的区域不包括所述坏簇区域,所述测量效果好的区域用于使所需图像直接在所述测量效果好的区域内成像,对所述坏簇区域排序包括按照所需要的测量效果好的区域的位置、大小及所述坏簇区域的位置进行排序。 |
地址 |
201203 上海市浦东区张江高科技园区张东路1525号 |