发明名称 |
投影装置及投影方法 |
摘要 |
本发明提供一种投影装置,具备:发光波长不同的多种类的半导体发光元件;输入图像信号的输入部;光学像形成部,使用使所述半导体发光元件发光而得到的光源光,形成与所述输入部输入的图像信号相应的光学像;投影部,将由所述光学像形成部形成的光学像向投影对象进行投影;温度检测部,针对所述半导体发光元件,按种类检测发光时的温度;测定部,针对所述半导体发光元件,按种类测定发光时的光的强度;以及发光控制部,使用所述温度检测部的检测结果,修正所述测定部的测定结果,并基于被修正后的所述测定结果,控制每个所述半导体发光元件的发光强度。 |
申请公布号 |
CN102722076B |
申请公布日期 |
2014.12.17 |
申请号 |
CN201210148809.X |
申请日期 |
2012.03.28 |
申请人 |
卡西欧计算机株式会社 |
发明人 |
柴崎卫;增田弘树 |
分类号 |
G03B21/20(2006.01)I;H04N9/31(2006.01)I |
主分类号 |
G03B21/20(2006.01)I |
代理机构 |
永新专利商标代理有限公司 72002 |
代理人 |
黄剑锋 |
主权项 |
一种投影装置,其特征在于,具备:发光波长不同的多种半导体发光元件;输入部,输入图像信号;光学像形成部,使用使所述半导体发光元件发光而得到的光源光,形成与所述输入部输入的图像信号相应的光学像;投影部,将由所述光学像形成部形成的光学像向投影对象进行投影;温度检测部,针对所述半导体发光元件,按种类检测发光时的温度;测定部,针对所述半导体发光元件,按种类测定发光时的光的强度;以及发光控制部,使用所述温度检测部的检测结果,对所述测定部的测定结果进行修正,并基于修正后的所述测定结果,控制每个所述半导体发光元件的发光强度,所述光学像形成部设置使所述半导体发光元件以单一种类发光的期间和使多个种类同时发光的期间,在由所述测定部测定时,在所述以单一种类发光的期间,分别形成整个面为黑的光学像,在使多个种类同时发光的期间,形成与所述输入部输入的图像信号相应的光学像。 |
地址 |
日本东京都 |