发明名称 基于信号概率的电路可靠性评估方法
摘要 本发明涉及一种基于信号概率的电路可靠性评估方法,读取集成电路门级网表,解析网表得到各个门节点之间的连接结构,提出一种分割算法将电路划分为多个模块,算法保证了分割出的多数模块功能上无冗余,结构上无重叠;每个模块即是一个子电路,对子电路运用PTM方法,依次计算每个模块的可靠度;依据计算独立事件联合概率的思想以模块可靠度乘积评估整个电路的可靠性。针对PTM方法仅能评估小规模电路的问题进行了改进,使其能运用于大规模电路;另一方面集成TP方法、EPP方法以及改进后的PTM方法开发了一个电路可靠性评估平台,可以将其用于在电路的设计阶段计算其可靠度,以便及时对设计结构进行调整。
申请公布号 CN104215893A 申请公布日期 2014.12.17
申请号 CN201410428749.6 申请日期 2014.08.28
申请人 上海电力学院 发明人 王真;雷景生
分类号 G01R31/28(2006.01)I 主分类号 G01R31/28(2006.01)I
代理机构 上海申汇专利代理有限公司 31001 代理人 吴宝根
主权项 一种基于信号概率的电路可靠性评估方法,其特征在于,包括如下具体步骤:1)读取集成电路门级网表,解析网表得到各个门节点之间的连接结构,运用分割算法将电路划分为模块,分割后模块相互之间功能上无冗余,结构上无重叠;2)每个模块即是一个子电路,对子电路运用PTM方法,依次计算每个模块的可靠度;3)依据计算独立事件联合概率的思想以模块可靠度乘积评估整个电路的可靠性。
地址 200090 上海市杨浦区平凉路2103号
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