半导体元件测试装置及其测试方法;SEMICONDUCTOR DEVICE TEST APPARATUS AND METHOD THEREOF

摘要

本发明系揭露一种半导体元件测试装置及其测试方法，此装置可包含半导体元件测试介面、测试载板、行动产业处理器介面模组以及缓冲模组。半导体元件测试介面可撷取待测半导体元件之行动产业处理器介面讯号。而测试载板则可接收行动产业处理器介面讯号，并可由设置于测试载板之行动产业处理器介面模组对行动产业处理器介面讯号进行解码产生经解码之影像资料。