发明名称 |
具有高密度传导部的测试插座;TEST SOCKET WITH HIGH DENSITY CONDUCTION SECTION |
摘要 |
本发明提供一种具有高密度传导部的测试插座。所述测试插座用以安置在待测试装置与测试设备之间用于电连接所述装置的端子与所述测试设备的衬垫。所述测试插座包括:弹性导电薄片,其包括第一传导部及绝缘支撑部,所述第一传导部安置在对应于所述装置的所述端子的位置处且是藉由在所述第一传导部的厚度方向上在弹性材料中配置多个第一导电粒子而形成,所述绝缘支撑部支撑所述第一传导部且使所述第一传导部彼此绝缘;支撑薄片,其附接至所述弹性导电薄片的顶表面且包括处于对应于所述装置的所述端子的位置处的穿透孔;以及第二传导部,其安置于所述支撑薄片的所述穿透孔中且是藉由在所述第二传导部的厚度方向上在弹性材料中配置多个第二导电粒子而形成。所述第二导电粒子比所述第一导电粒子配置得更密集,且所述穿透孔具有大于其下部直径的上部直径。 |
申请公布号 |
TW201447324 |
申请公布日期 |
2014.12.16 |
申请号 |
TW103105524 |
申请日期 |
2014.02.19 |
申请人 |
ISC股份有限公司 |
发明人 |
李载学 |
分类号 |
G01R31/26(2014.01);G01R1/04(2006.01) |
主分类号 |
G01R31/26(2014.01) |
代理机构 |
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代理人 |
<name>叶璟宗</name><name>郑婷文</name><name>詹富闵</name> |
主权项 |
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地址 |
南韩 |