发明名称 |
半导体装置的制造方法;METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE |
摘要 |
半导体装置的制造方法包括:将第一沟渠形成在漂移层的第一区中,该漂移层具有包括第一区和第二区之表面;在形成该第一沟渠之后,将p型基极层的晶体生长在该漂移层之表面上;以及将n型源极层的晶体生长在该基极层之表面上。该漂移层、该基极层、及该源极层的材料为宽能隙半导体。 |
申请公布号 |
TW201448050 |
申请公布日期 |
2014.12.16 |
申请号 |
TW103102476 |
申请日期 |
2014.01.23 |
申请人 |
电装股份有限公司 |
发明人 |
水野祥司;铃木克己;青井佐智子;渡辺行彦 |
分类号 |
H01L21/336(2006.01);H01L21/28(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/336(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
<name>林志刚</name> |
主权项 |
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地址 |
日本 |