发明名称 半导体装置的制造方法;METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要 半导体装置的制造方法包括:将第一沟渠形成在漂移层的第一区中,该漂移层具有包括第一区和第二区之表面;在形成该第一沟渠之后,将p型基极层的晶体生长在该漂移层之表面上;以及将n型源极层的晶体生长在该基极层之表面上。该漂移层、该基极层、及该源极层的材料为宽能隙半导体。
申请公布号 TW201448050 申请公布日期 2014.12.16
申请号 TW103102476 申请日期 2014.01.23
申请人 电装股份有限公司 发明人 水野祥司;铃木克己;青井佐智子;渡辺行彦
分类号 H01L21/336(2006.01);H01L21/28(2006.01) 主分类号 H01L21/336(2006.01)
代理机构 代理人 <name>林志刚</name>
主权项
地址 日本