发明名称 钴溅镀靶及其制造方法
摘要 本发明之钴溅镀靶之特征在于:纯度为99.99%以上,溅镀面内之面内磁导率为5以上且10以下,溅镀面内之面内磁导率之标准偏差为3以内。本发明提供一种藉由降低与溅镀面平行之方向之磁导率,增大与溅镀面垂直之方向之磁导率,提高溅镀效率并且抑制溅镀面内之面内磁导率之不均,而可提高膜之均匀性的钴溅镀靶及其制造方法。
申请公布号 TW201447001 申请公布日期 2014.12.16
申请号 TW103111214 申请日期 2014.03.26
申请人 JX日鑛日石金属股份有限公司; METALS CORPORATION 发明人 原田健太郎;高桥一成
分类号 C23C14/34(2006.01) 主分类号 C23C14/34(2006.01)
代理机构 代理人 <name>阎启泰</name><name>林景郁</name>
主权项
地址 日本