发明名称 |
钴溅镀靶及其制造方法 |
摘要 |
本发明之钴溅镀靶之特征在于:纯度为99.99%以上,溅镀面内之面内磁导率为5以上且10以下,溅镀面内之面内磁导率之标准偏差为3以内。本发明提供一种藉由降低与溅镀面平行之方向之磁导率,增大与溅镀面垂直之方向之磁导率,提高溅镀效率并且抑制溅镀面内之面内磁导率之不均,而可提高膜之均匀性的钴溅镀靶及其制造方法。 |
申请公布号 |
TW201447001 |
申请公布日期 |
2014.12.16 |
申请号 |
TW103111214 |
申请日期 |
2014.03.26 |
申请人 |
JX日鑛日石金属股份有限公司; METALS CORPORATION |
发明人 |
原田健太郎;高桥一成 |
分类号 |
C23C14/34(2006.01) |
主分类号 |
C23C14/34(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
<name>阎启泰</name><name>林景郁</name> |
主权项 |
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地址 |
日本 |