发明名称 FEEDBACK SCAN ISOLATION AND SCAN BYPASS ARCHITECTURE
摘要 <p>피드백 검사 분리 및 바이패스 구조 장치 및 방법. 장치는 코어 로직, 및 입력 다중화기와 출력 다중화기를 포함한다. 입력 다중화기는 테스트 신호에 기초하여 코어 입력으로 기능 입력 또는 코어 출력을 선택적으로 제공한다. 출력 다중화기는 테스트 신호에 기초하여 기능 출력으로 코어 출력 또는 입력 다중화기 출력을 선택적으로 제공한다. 테스트 신호가 코어 피드백 테스팅을 표시하는 경우, 출력 다중화기는 코어 출력을 출력하고 입력 다중화기는 코어 출력을 코어 입력으로 피드백한다. 테스트 신호가 바이패스 테스팅을 표시하는 경우, 입력 다중화기는 기능 입력을 출력하고 출력 다중화기는 코어 로직을 바이패스하며 기능 입력들을 출력한다. 로직은 타이밍이 문제들이 있는 경우 피드백 신호 또는 바이패스 신호를 차단할 수 있다. 로직은 기능 입력들과 기능 출력들의 개수가 상이한 경우 피드백 신호 또는 바이패스 신호의 개수를 변경할 수 있다.</p>
申请公布号 KR101473599(B1) 申请公布日期 2014.12.16
申请号 KR20137014868 申请日期 2011.11.11
申请人 发明人
分类号 G01R31/3177;G01R31/3183 主分类号 G01R31/3177
代理机构 代理人
主权项
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