| 摘要 |
本发明提出一种测试装置，用于测试一待测晶片元件，该测试装置包含一系统电路板、一第一晶片元件、一支撑结构、一电路板及一插入件。系统电路板具有一侧面，而第一晶片元件设置于系统电路板的侧面上，并与系统电路板相电性连接；支撑结构设置于系统电路板的侧面上，且至少环绕第一晶片元件；电路板固定于支撑结构上，且与第一晶片元件相分隔；电路板具有一连接器，用以连接待测晶片元件；插入件位于电路板与第一晶片元件之间，使得电路板通过插入件来电性连接第一晶片元件。藉此，第一晶片元件不需与待测晶片元件相插接，故第一晶片元件较不易因为频繁的测试而损坏。 |
